Workshop T2 (線上回放): 半導體關鍵技術及趨勢 - AI Factory Scaling
線上課程回放 | 時長:3.5~4小時 | 可看兩週,報名後一週內會收到課程(ACCUPASS時間僅為報名截止時間)| Bonus:參加者會獲得半導體專業社群的Invitation | 報名截止時間:3/30 (Sun.) 13:00
線上課程回放 | 時長:3.5~4小時 | 可看兩週,報名後一週內會收到課程(ACCUPASS時間僅為報名截止時間)| Bonus:參加者會獲得半導體專業社群的Invitation | 報名截止時間:3/30 (Sun.) 13:00
前ASML荷蘭總部產品經理和資深研發Vince,會將其在歐洲及亞洲的經驗整理成一個全面的半導體趨勢Overview跟大家分享。
Workshop會涵蓋三大範圍:
Chapter 1 - Agentic AI & Physical AI:
AI從ChatGPT問世後,產生了爆發性的成長,而ChatGPT背後其實是Large Language Model (LLM),主要是使用Transformer模型來實現。
而從Large Language Model開始後的這兩年,這些模型有很多的演進。首先,是往所謂的Multimodal Model (多模態模型演進),嘗試著讓AI同時能夠理解文字、語音、圖像.....等模式,進而做出反應。
而在這個之上,大家開始發展"Agentic AI",也就是,讓AI能夠代理人去執行很多任務,如打電話訂餐廳,完成某些文書工作.....等。更進一步,就是讓AI跟物理世界結合,打造像機器人、工廠智慧手臂.....等的"Physical AI"。
我們在這章,將會介紹這些東西的發展,也講解機器人AI模型背後的運作原理。
Chapter 2 - GPU & ASIC晶片設計趨勢:
而因應AI模型的快速發展,對於算力的需求遠遠超過過去。因此,除了GPU有很多的演化以外,ASIC (Application-Specific Integrated Circuit) 也如雨後春筍般發展。
除了很多雲端巨頭發展屬於自己的ASIC以外,很多新創公司也都嘗試著用創新設計的晶片來進入市場,所以可以看到很多特別的晶片設計方式。
再來,Scaling Law從Pre-Training Scaling延伸到Test-Time Scaling之後,對於Inference晶片的需求接下來也預期會大幅提升。因為Training晶片和Inference晶片的架構需求不同的關係,預期Inference晶片也會演化成一個非常重要的新市場,我們將會在這章分析這些趨勢。
Chapter 3 - System Scaling:
而隨著AI模型的增大,大型AI Cluster變成一個快速發展的趨勢,在AI系統往超大型Data Center發展的過程中,整個系統的bottleneck會從晶片本身,延伸到晶片和晶片的互聯和傳輸。
因此,晶片間的傳輸速度將會變成AI Cluster性能提升很嚴重的Bottleneck,而晶片和晶片互聯的技術&CPO (Co-Packaged Optics) 會是未來重要的Solutions。所以,我們在最後這章會討論這些挑戰以及相關的技術解決方案發展。
誰適合來參加?
技術人:如果你是專精的技術人,但是你想要拓展你在半導體不同領域的視野,進而增加轉職管理/商業職務的機會,這個Workshop可以幫助你了解半導體產業的結構和趨勢。
管理人:如果你是公司的管理人員,需要了解跨公司的領域知識來幫助你更好的為公司找到下一個機會,這個Workshop幫你整理了半導體產業最新的趨勢。
銷售人員:如果你是想要切入半導體銷售的銷售人員,這個Workshop幫助你了解半導體產業的一些關鍵知識,讓你可以更容易地串連和發想你的銷售策略。
投資人:如果你是半導體產業的投資人,想要更清楚的判斷產業技術的潛力和半導體產業的趨勢,這個Workshop幫助你從底層的產業結構整理出未來可能的需求和趨勢。
Vince Liu(前ASML荷蘭總部產品經理)
經歷
2021~ | Redefine Innovation 顧問服務負責人
2016~2020 | ASML 荷蘭總部
2019~2020 | Product Portfolio Manager (和同事4人管理全球 ~400M€ 營收)
2016~2018 | Sr. R&D Engineer (Machine learning產品開發專案亞洲區代表)
2017~2018 | 鹿特丹管理學院EMBA
2012~2016 | ASML 台灣 (光學檢測/光學模擬產品開發)
2006~2012 | 中央研究院 (電子顯微鏡開發)
2015 | ASML recognition award (光學模擬軟體)
2013 | ASML spot award (光學檢測)
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